ИСОИ / Моделирование прохождения эл.-магн. излучения через ДОЭ

МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОХОЖДЕНИЯ
ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ЧЕРЕЗ ДОЭ

Цели –
анализ прохождения излучения через пропускающие дифракционные элементы
с субволновым профилем и оценка влияния технологических погрешностей изготовления на их работу

Распределение интенсивности поля в микролинзе и области фокусировки


Вид локального искажения микрорельефа (“бортика”) на стыке двух элементарных областей структурирования с одинаковыми глубинами травления. Длина волны - 10,6 мкм	Зависимость интенсивности нулевого прошедшего порядка от высоты технологической погрешности. Кривая "а" соответствует треугольной форме “бортика”, "б" - синусоидальной и "в" - прямоугольной.

Публикации:
1. Автометрия N6 1999, с. 119-121.
2. Компьютерная оптика. N 21, 2001, с. 131-133.
3. Optical Memory and Neural Networks, Vol.11, N2, 2002, p.131-134
4. Компьютерная оптика N25 2003 г. стр. 36-40.