Услуги оказываемые ЦКП

измерение твердости материала;
•измерение рельефа поверхности с субнанометровым вертикальным разрешением и построение трехмерных изображений рельефа поверхности;
•измерение шероховатости поверхности;
•измерение толщины покрытий;
•визуализация трехмерного пространственного распределения оптических, фазовых и структурных неоднородностей;
•визуализация биологических материалов на субклеточном уровне;
•трехмерная литография в фотоактивных материалах;
•визуализация и определение линейных размеров наночастиц, нанотрубок, зерен нанокристаллических материалов и других наноматериалов;
•измерения твердости и модуля упругости в режиме наноиндентирования;
•проведение электронной и оптической литографии;
•измерение профиля поверхности твердых объектов методом механической профилометрии;
•прецизионная резка твердых веществ;
•шлифовка и высококачественная механическая полировка;
•измерения на оптическом микроскопе;
•измерения на оптическом профилометре;
•высокоскоростная видеосъемка высокого разрешения;
•обработка изображений, устранение дефектов, определение геометрических и статистических параметров;
•исследование оптических свойств материалов;
•измерение основных характеристик (мощности, энергии и профиля пучка) источников лазерного излучения;
•тестирование элементов оптоэлектроники и нанофотоники с использованием лазерного излучения средней и высокой мощности в видимом, ИК- и УФ-диапазоне;
•рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ для качественного и количественного определения фазового состава, кристаллической структуры и размера кристаллитов в широком интервале температур;
•формирование рисунка в фоторезисте на поверхности пластины;
•вакуумное нанесение тонких пленок металлов и диэлектриков;
•плазменное травление;
•разработка и заказ фотошаблонов;
•оптическая спектроскопия – измерение и анализ спектров отражения и пропускания в видимой, ближней и дальней ИК- и УФ-областях спектра;
•оптическая спектроскопия – количественный химический анализ по спектрам флуоресценции и поглощения;
•оптическая спектроскопия – измерение спектров комбинационного рассеяния с высоким пространственным и спектральным разрешением;
•оптическая спектроскопия – идентификация полос поглощения в ИК-спектре, относящихся к определенным функциональным группам анализируемых органических и полимерных материалов;
•консультации по проектированию дифракционных оптических элементов;
•проектирование дифракционных оптических элементов для ИК, видимого и УФ диапазонов;
•консультации по высокопроизводительным кластерным и облачным вычислением, а также ГРИД-технологиям;
•разработка программного обеспечения для высокопроизводительных вычислений;
•проектирование оптических, в том числе, светодиодных систем;
•моделирование оптических наноструктур и устройств дифракционной нанофотоники;