Формирование высокочастотных интерференционных картин поверхностных плазмонов
Показано, что в ближнем поле структур нанофотоники, состоящих из дифракционных решеток с одномерной или двумерной периодичностью и металлических и/или диэлектрических слоев, возможно формирование высококонтрастных интерференционных картин затухающих или поверхностных электромагнитных волн (поверхностных плазмон-поляритонов, распространяющихся вдоль границы раздела металла и диэлектрика, или блоховских электромагнитных волн, распространяющихся вдоль границы раздела фотонного кристалла и диэлектрической среды). Размер деталей формируемых интерференционных картин в 6–10 раз меньше длины волны падающего излучения. Теоретически предсказаны и на основе численного моделирования продемонстрированы методы управления видом и периодом формируемых картин за счет изменения длины волны, угла падения и поляризации падающей волны. Полученные результаты подтверждены экспериментально для плазмонной структуры, состоящей из четырех дифракционных решеток, выполненных в металлическом слое. Предложенные структуры могут найти применение при создании систем контактной фотолитографии в ближнем поле для создания периодических структур с наноразмерными деталями, а также систем оптического захвата и манипулирования микро- и наночастицами.
Изображение изготовленной структуры нанофотоники для формирования высокочастотных интерференционных картин поверхностных плазмон-поляритонов, полученное на сканирующем электронном микроскопе. Структура состоит из четырех дифракционных решеток (наборов щелей) в металлической пленке. Параметры структуры: период решеток 612 нм, ширина щелей 200 нм, металл — серебро, толщина пленки — 100 нм. | Интерференционные картины поверхностных плазмонов, формируемые при падении на структуру волны с длиной 632,8 нм: (а) — линейная поляризация (период картины dip = 426 нм), (б) — круговая поляризация (период картины dip = 301 нм). Сверху на каждом из рисунков показаны экспериментальные изображения, измеренные методом ближнепольной сканирующей микроскопии, снизу — результаты численного моделирования. |
Публикации: