Разработаны теоретические модели, основанные на теории связанных волн и строго доказывающие существование ССК в исследуемых структурах. Несмотря на свою простоту, разработанные модели позволяют с высокой точностью предсказать положение ССК в рассматриваемом пространстве параметров. В реальных структурах нанофотоники (при наличии потерь на поглощение в материалах, шероховатости поверхности, а также при учете эффектов конечности структуры и т. д.) ССК переходят в резонансы с конечной, но весьма высокой добротностью, что обусловливает практическую значимость полученных результатов.
Потенциальные практические применения рассмотренных структур включают оптические резонаторы, узкополосные спектральные и пространственные фильтры и сенсоры, устройства для аналоговых оптических вычислений.
Геометрии рассмотренных дифракционных структур, в которых формируются ССК |
Коэффициент отражения интегрального резонатора: строгое моделирование (слева) и предложенная аналитическая модель (справа). Кружочками отмечены положения ССК, предсказанные моделью.
Публикации: