МОДЕЛИРОВАНИЕ
ПРОХОЖДЕНИЯ
ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ЧЕРЕЗ
ДОЭ
Цели:
анализ прохождения излучения через пропускающие дифракционные элементы
с субволновым профилем и оценка влияния технологических погрешностей изготовления
на их работу.
 |
Распределение
интенсивности поля в микролинзе и области фокусировки
 |
 |
|
Вид локального искажения микрорельефа (“бортика”)
на стыке двух элементарных областей структурирования с одинаковыми
глубинами травления.
Длина волны - 10,6 мкм |
Зависимость интенсивности нулевого прошедшего порядка
от высоты технологической погрешности. Кривая "а" соответствует
треугольной форме “бортика”, "б" - синусоидальной и "в"
- прямоугольной.
|
Публикации:
1. Автометрия. - 1999. - № 6. - C.119-121.
2. Компьютерная оптика. - N 21. - 2001. - C.131-133.
3. Optical Memory and Neural Networks. - Vol. 11. - № 2. - 2002. - P.131-134
4. Компьютерная оптика. - 2003. - № 25. - C.36-40.