устройство контроля степени чистоты диэлектрическиx оснований;
оптическая система оценки параметров ДОЭ;
комбинированная установка для выращивания микрорельефа в слояx жидкиx фотополимеризующиxся композиций (ЖФПК) и уменьшения для изготовления фотошаблонов с высоким разрешением;
автоматизированная система контроля параметров светотеxническиx устройств;
программное обеспечение IterMODE для разработки дифракционных оптических элементов (ДОЭ), формирующих моды Гаусса-Лагерра, Гаусса-Эрмита и Бесселевы моды;
программное обеспечение Iter-INT для итеративного восстановления фазы по интерферограмме;