РАСЧЕТ И МОДЕЛИРОВАНИЕ ДОЭ В РАМКАХ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ТЕОРИИ
| а) |
б) |
в) |
 |
 |
 |
 |
 |
 |
Распределения интенсивности,
формируемые бинарными линзами в фокальной плоскости и в плоскости XOZ.
Радиусы и фокусы линз: (а) R=3,54l, f=2l; (б) R=f=5l; (в) R=5,6l, f=7l,
l=0,55мкм, n=1,5.
2. Моделирование модообразующих свойств аксикона.
|
 |
Распределения интенсивности, формируемые бинарным аксиконом с радиусом R=3,54l и углом 300 в плоскости XOZ и в центральном сечении отрезка.
3. Расчет антиотражающих субволновых покрытий.
а) |
в) |
 |
 |
Зависимость коэффициента отражения от глубины h и размера штриха v.
а) Для субволновой бинарной решетки из ZnSe с квадратной формой штриха при
l=10,6 мкм.
б) Для субволновой бинарной решетки из вольфрама с круглой формой штриха при
l=0,55 мкм.
Публикации:
1.Компьютерная оптика. - 2003. - вып. 23. - C.21-23.
2.Компьютерная оптика. - 2003. - вып. 23. - C.49-53.