.../ПУБЛИКАЦИИИ/МОНОГРАФИИ


Дифракционная нанофотоника
(Под редакцией В.А. Сойфера)

Гаврилов А.В., Головашкин Д.Л., Досколович Л.Л., Дьяченко П.Н., Ковалев, А.А., Котляр В.В., Налимов А.Г., Нестеренко Д.В., Павельев В.С., Скиданов Р.В., Сойфер В.А., Хонина С.Н., Шуюпова Я.О.

ISBN: 978-5-9221-1237-6
680 с.
Физматлит, 2011
г.
Описание книги на сайте издательства

Аннотация:
Книга посвящена бурно развивающемуся  направлению науки и техники - нанофотонике. Нанофотоника рассматривает взаимодействие света с частицами вещества или неоднородностями, размеры которых меньше и много меньше длины волны, и устройства, реализованные на этой основе. Дифракционная нанофотоника базируется  на описании процессов поведения света в рамках электромагнитной теории Максвелла. Подробно рассмотрены современные методы численного решения следующих уравнений: метод разностного решения уравнений Максвелла FDTD (finite-difference time-domain); метод численного  решения уравнения Гельмгольца BPM (beam propagation method); проекционный метод решения уравнения Гельмгольца МКЭ (метод конечных элементов Галеркина); метод Фурье-мод RCWA (rigorous coupled-wave analysis) для решения задачи дифракции плоской волны на двумерных и трехмерных дифракционных структурах и дифракционных решетках; метод согласованных синусоидальных мод (ССМ-метод) для расчета мод фотонно-кристаллических волноводов. В книге активно используются современные программы, в том числе  Fullwave (фирмы RSoft), Fimmwave (Photon Design), OlympIOs (Concept To Volume). Рассмотрена дифракция света на двумерных и трехмерных фотонных кристаллах; фотонно-кристаллических волноводах и линзах; на градиентных элементах; на одномерных и двумерных дифракционных решетках, в том числе с металлическими слоями для формирования интерференционной картины поверхностных электромагнитных волн (плазмонов). Рассматриваются магнитооптические свойства двухслойных металлодиэлектрических гетероструктур, состоящих из металлической дифракционной решётки и диэлектрического намагниченного слоя. Результаты математического моделирования сравниваются  с результатами экспериментального исследования созданных устройств дифракционной нанофотоники.

Гриф:
Для студентов старших курсов специальностей: прикладные математика и физика, прикладная математика и информатика, оптика, а также для аспирантов, докторантов, научных работников и специалистов, работающих в соответствующих областях.